Analizatory grubości powłok

Analizatory grubości powłok (2)

Analiza grubości powłok metodą XRF to niezawodna, nieniszcząca metoda, pozwalająca na pomiar grubości warstw kilku lub kilkudziesięciu μm w zależności od materiału powłoki i matrycy. Spektrometry XRF mogą mierzyć z dużą dokładnością skład i grubość powłok pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny i cynku itp.). Przykładowe kalibracje: Al/Cu, Cu/Sn, Au/ceramika, Cu/plastik itp.

Spektrometr XRF THICK800A
Spektrometr THICK 800A to XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim…
Spektrometr XRF THICK8000
Spektrometr XRF THICK8000 to wysokiej klasy spektrometr XRF z detektorem SDD przeznaczony do szybkiej i nieniszczącej analizy grubości powłok galwanicznych i składu pierwiastkowego powłok. Umożliwia pomiary XRF dla powłok metalicznych,…